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Productos Haida
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Climatic HAST High Pressure Accelerated Aging Tester For Semiconductor Chip 1
Climatic HAST High Pressure Accelerated Aging Tester For Semiconductor Chip 1

Probador de envejecimiento acelerado de alta presión Climatic HAST para chip semiconductor

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    Probador de envejecimiento acelerado de alta presión

    Funciones:

    1. Se adopta la estructura de doble circuito de las válvulas solenoides resistentes a altas temperaturas importadas, lo que reduce la tasa de fallas en la mayor medida posible.

    2. Sala generadora de vapor independiente, para evitar el impacto directo del vapor en el producto, para no causar daños locales al producto.

    3. La estructura de ahorro de mano de obra de la cerradura de la puerta resuelve las desventajas de la primera generación de manijas tipo disco, que son difíciles de bloquear.

    4. Expulse el aire frío antes de la prueba; El diseño del aire frío de escape durante la prueba (el aire en el tanque de prueba se descarga) mejora la estabilidad de la presión y la repetibilidad.

    5. Tiempo de operación experimental a ultra largo plazo, operación experimental de la máquina a largo plazo durante 400 horas.

    6. Protección del nivel de agua, a través de la detección y protección del sensor de nivel de agua en la sala de pruebas.

    7. Diseño resistente a la presión, la caja puede soportar una presión (150 °C) de 2,65 kg, que cumple con la prueba de presión de agua de 6 kg.

    8. Dispositivo de protección de seguridad de presión de dos etapas, que utiliza un dispositivo de control combinado de dos etapas y un dispositivo de protección de presión mecánica.

    9. Botón de alivio de presión de protección de seguridad, dispositivo de seguridad de emergencia, botón de alivio de presión automático de dos etapas.

    10. El terminal de prueba de polarización soporta un voltaje de hasta 3000 V (opcional)

    11. Curva de datos del historial de exportación USB

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