El equipo de prueba Haida obtuvo el certificado de nueva empresa de alta tecnología en 2019 Teléfono:+86-13602361535 Correo electrónico:[email protected]
64 piezas de astillas de alta y baja temperatura cámara de envejecimiento acelerado
Característica
Admite la personalización de la cantidad de chips de prueba PCIE, como 32 chips, 36 chips, 64 chips, 96 chips, 156 chips, 216 chips, etc.;
Apoyar la investigación y el desarrollo de la personalización en microminiatura, como 4 piezas, 8 piezas, etc.
Prueba de soporte (-70 ° ~ + 180 °)
Admite prueba de falla de energía anormal y prueba de envejecimiento
Admite pruebas automatizadas de control de temperatura;
Admite todas las pruebas de control inteligente con software;
Apoyar la personalización del software de prueba;
Apoyar el equilibrio de la velocidad del viento y la temperatura en la caja;
Admite un control rápido de calentamiento y enfriamiento;
Apoyar la investigación y el desarrollo personalizados del envejecimiento PCIE;
Admite control de red, puede controlar la prueba en diferentes lugares y ver los resultados de la prueba;
Admite prueba de control remoto de la aplicación;
Todo el sistema de prueba de la máquina incluye principalmente una caja de alta y baja temperatura, una placa principal de PC, una placa PM, una placa de chips, una placa FPGA, herramientas de productos, una PC de prueba de almacén trasero y software de prueba, etc. La parte de hardware.
Descripción general del sistema de prueba inteligente SSD
El sistema de prueba inteligente de SSD adopta la plataforma del sistema operativo Win10, a través del modo de script abierto, la temperatura de la caja de alta y baja temperatura y los elementos de prueba de los productos PCIE se pueden modificar arbitrariamente, y la transmisión de datos se lleva a cabo a través del sistema LINUX y el conmutador de red para realizar la operación con un solo botón. Control en red, ahorro de mano de obra, realización de una gestión inteligente de datos y retención permanente de los resultados de las pruebas.
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Equipo de prueba HAIDA
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Contacto: Sra. Zhong
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